工業(yè)CT是工業(yè)用計算機斷層成像技術(shù)的簡稱，它能在對檢測物體無損傷條件下，以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式，清晰、準確、直觀地展示被檢測物體內(nèi)部的結(jié)構(gòu)、組成、材質(zhì)及缺損狀況。

　　CT檢測結(jié)果主要來源于CT圖像提供的正常或異常信息，優(yōu)質(zhì)CT圖像是檢測結(jié)果準確性的前提條件，而影響CT圖像質(zhì)量的主要因素包括三方面，即空間分辨率、密度分辨率和偽像。實驗室若想得到高質(zhì)量的CT圖像，需對以上三個因素進行把控，下面主要分析影響空間分辨率、密度分辨率和偽像的因素。

　　01空間分辨率

　　空間分辨率是指從CT圖像中能夠分辨特定的最小幾何細節(jié)的能力，定量表示為能分辨兩個細節(jié)特征的最小間距。空間分辨率是影響圖像質(zhì)量的首要因素，其受有效射束寬度的影響，有效射束寬度越小，物理意義上系統(tǒng)的臨界空間分辨率越高。

　　影響空間分辨率的主要因素如下：

　　(1)探測器孔徑的尺寸，孔徑越窄，幾何放大倍數(shù)越大，空間分辨率就越高。

　　(2)射線源焦點尺寸，焦點較小的X線管產(chǎn)生的X射線較窄，可獲得較高的空間分辨率。

　　(3)射線源至探測器距離一般為定值。

　　(4)射線源至試件距離存在一個最佳距離，能使WB獲得最小值。

　　除此之外，以下因素也會影響空間分辨率：

　　在圖像重建中選用的卷積濾波器的形式不同，空間分辨率也不同。

　　X射線劑量、矩陣、層厚、像素大小、掃描裝置噪聲等對空間分辨率均有影響。層厚越薄，空間分辨率越高；但層厚越薄，噪聲就越大，低對比分辨率就會降低。

　　02密度分辨率

　　密度分辨率，又稱為低對比度分辨率，是系統(tǒng)分辨給定物體斷層截面射線衰減系數(shù)差別(對比度)的能力。定量表示為給定面積上能夠分辨的細節(jié)與基體材料的最小對比度。

　　密度分辨率的影響因素有圖像噪聲、像素寬度、經(jīng)驗系數(shù)等，其中，影響CT系統(tǒng)密度分辨率的一個重要因素是系統(tǒng)噪聲，噪聲增大，CT系統(tǒng)能夠分辨的最小物體對比度也增大。

　　03偽像

　　偽像是與物體的物理結(jié)構(gòu)不相符的圖像特征。產(chǎn)生偽像的原因有很多，測量過程中的一系列誤差都可能造成測量數(shù)據(jù)的不一致，從而引起偽像，如機械系統(tǒng)精度不夠、射線源輸出能量不穩(wěn)定、穿透力不足、探測器通道之間不均勻及數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)電路噪聲大等，特別要說明的是掃描工藝不適當(dāng)時會產(chǎn)生嚴重的偽像，因此檢測人員是否有充足的經(jīng)驗也是偽像產(chǎn)生的重要影響因素。